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　　x熒光鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的更具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

 

　　工作原理：

　　x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

 

　　x熒光鍍層測厚儀可應用于：

　　合金分析；鍍層厚度分析；電鍍液金屬離子分析；磁性介質和半導體元素分析；土壤污染元素分析；過濾器上的薄膜元素分析；塑料中的有毒元素分析。

 

　　使用優(yōu)勢：

　　1、超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面；

　　2、易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果；

　　3、有助于識別鍍層成分的創(chuàng)新型功能；

　　4、機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室；

　　5、按下按鈕的數(shù)秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的結果；

　　6、使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書；

　　7、用戶通過攝像頭及艙內照明系統(tǒng)，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心；

　　8、有X射線防護鎖，只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線，安全、可靠的保證客戶使用。